Effect of interface native oxide layer on the properties of annealed Ni/SiC contacts

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	Effect of interface native oxide layer on the properties of annealed Ni/SiC contacts
	Huang W(黄维) ; Chang SH(常少辉) ; Liu XC(刘学超) ; Li ZZ(李铮铮) ; Zhou TY(周天宇) ; Zheng YQ(郑燕青) ; Shi EW(施尔畏) ; Yang JH(杨建华)
刊名	Materials Science Forum
	2013-01-25
卷号	740 期号:1 页码:485
ISSN号	1662-9752
其他题名	Effect of interface native oxide layer on the properties of annealed Ni/SiC contacts
通讯作者	黄维
学科主题	材料科学
语种	英语
公开日期	2014-12-18
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sic.ac.cn/handle/331005/5075]
专题	上海硅酸盐研究所_中试基地_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	Huang W,Chang SH,Liu XC,et al. Effect of interface native oxide layer on the properties of annealed Ni/SiC contacts[J]. Materials Science Forum,2013,740(1):485.
APA	Huang W.,Chang SH.,Liu XC.,Li ZZ.,Zhou TY.,...&Yang JH.(2013).Effect of interface native oxide layer on the properties of annealed Ni/SiC contacts.Materials Science Forum,740(1),485.
MLA	Huang W,et al."Effect of interface native oxide layer on the properties of annealed Ni/SiC contacts".Materials Science Forum 740.1(2013):485.