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	光源频闪测试装置
	赵勇兵 ; 裴艳荣 ; 朱绍歆 ; 田婷 ; 郭金霞 ; 杨华 ; 伊晓燕 ; 王国宏 ; 李晋闽
专利国别	中国
专利类型	发明
权利人	中国科学院半导体研究所
学科主题	半导体器件
公开日期	2014
申请日期	2013-09-17
专利申请号	CN201310424557.3
内容类型	专利
源URL	[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25528]
专题	半导体研究所_中科院半导体照明研发中心
推荐引用方式 GB/T 7714	赵勇兵,裴艳荣,朱绍歆,等. 光源频闪测试装置.

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