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题名光化学沉积氧化物SiO_2 SnO_2薄膜的研究
作者温刚
学位类别硕士
答辩日期1989
授予单位中国科学院电子学研究所
授予地点中国科学院电子学研究所
导师杨连贵
学位专业电子物理与器件
中文摘要光化学汽相沉积是近年来发展起来的一种新的薄膜沉积技术。在大规模集电路、MOS器件,SIS太阳能电池以及钇钡铜氧超导材料中氧化膜的制备方面,光化学沉积的激发选择性,空间选择性及基板温度选择性等特点正在发挥越来越重要的作用。本文采用CW CO_2激光和TEACO_2激光,研究了SnO_2透明导电膜的制备和SiCl_4的红外多光子吸收过程,发现沉积的氧化物薄膜形状与激光的输出模式有关;SiCl_4气体经红外多光子吸收过程离解或Si原子,Si原子再与氧气反应生成SiO_2薄膜。本文还采用低压汞灯为光源,分别以空气为工作气体、过氧化氢为引发剂,研究了单晶硅表面的增强氧化效应和紫外光的“记忆效应”。在680℃温度下,分别得到了3.4A/min和7.4A/min氧化速率。我们认为,激光低阶模中的高斯分布及高阶模式输出,是形成火山口形状和环状氧化物薄膜的主要原因。CiCl_4的离解和氧化是红外多光子吸收过程,低温紫外光化学沉积确实获得了增强氧化和“记忆效应”的效果。
语种中文
公开日期2011-07-19
页码64
内容类型学位论文
源URL[http://159.226.65.12/handle/80137/9295]  
专题电子学研究所_电子所博硕士学位论文_电子所博硕士学位论文_学位论文
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GB/T 7714
温刚. 光化学沉积氧化物SiO_2 SnO_2薄膜的研究[D]. 中国科学院电子学研究所. 中国科学院电子学研究所. 1989.
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