Spectroscopic properties of Ho3+ ions in biaxial Lu2SiO5 crystal

	Spectroscopic properties of Ho3+ ions in biaxial Lu2SiO5 crystal
	Q. Dong ; G.J. Zhao ; J.Y. Chen ; Y.C. Ding ; B.Q. Yao ; and Z.P. Yu
刊名	opt. mater.
	2010
期号	32 页码:873
合作状况	其它
学科主题	光学材料
收录类别	其他
语种	中文
WOS记录号	WOS:000279620900006
公开日期	2011-03-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/6901]
专题	上海光学精密机械研究所_激光与光电子功能材料研发中心
推荐引用方式 GB/T 7714	Q. Dong,G.J. Zhao,J.Y. Chen,et al. Spectroscopic properties of Ho3+ ions in biaxial Lu2SiO5 crystal[J]. opt. mater.,2010(32):873.
APA	Q. Dong,G.J. Zhao,J.Y. Chen,Y.C. Ding,B.Q. Yao,&and Z.P. Yu.(2010).Spectroscopic properties of Ho3+ ions in biaxial Lu2SiO5 crystal.opt. mater.(32),873.
MLA	Q. Dong,et al."Spectroscopic properties of Ho3+ ions in biaxial Lu2SiO5 crystal".opt. mater. .32(2010):873.