基于平行平板的折射率高精度非接触测量

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	基于平行平板的折射率高精度非接触测量
	熊芬 ; 胡中文 ; 姜明达
刊名	应用光学
	2012-01
卷号	33 期号:1 页码:148-153
关键词	光学测量折射率非接触测量
中文摘要	常用的测量折射率的方法如偏向角法、自准直法、临界角法、Ｖ棱镜法等，这些方法通常需特制三棱镜与待测件。待测样品不一致且过程复杂，测试定标周期长，难于自动化。为了保证待测材料的完整及实现自动化测量，进行了基于平行平板的折射率非接触测量的尝试。运用该方法进行折射率的测量，不需特制三棱镜并且待测件与待测样品一致。分析表明，通过选择合适的测量角度，该方法旋转角度精度为Δａ＝０．００３°（即１０″），导轨精度为ΔＬ＝０．０００８ｍｍ，平行平板厚度测量精度为Δｄ＝０．００１ｍｍ。
学科主题	天文技术与方法
公开日期	2013-12-31
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/535]
专题	南京天文光学技术研究所_中科院南京天光所知识成果_期刊论文南京天文光学技术研究所_天文光谱和高分辨成像技术研究室_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	熊芬,胡中文,姜明达. 基于平行平板的折射率高精度非接触测量[J]. 应用光学,2012,33(1):148-153.
APA	熊芬,胡中文,&姜明达.(2012).基于平行平板的折射率高精度非接触测量.应用光学,33(1),148-153.
MLA	熊芬,et al."基于平行平板的折射率高精度非接触测量".应用光学 33.1(2012):148-153.