子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法

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	子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法
	张明意 ; 李新南
刊名	光电工程
	2006-08
卷号	33 期号:8 页码:117-122
关键词	光学检测光学元件子孔径拼接倾斜
中文摘要	在子孔径拼接检测大口径光学平面时，子孔径检测的数据往往存在倾斜，它将会导致拼接的数据沿着一个方向的倾斜累加，最后引入很大的倾斜误差。由于这种倾斜误差难以手动修正，通过实验，先用最小二乘法编制软件对所测子孔径数据进行消除倾斜处理，然后把去倾斜的子孔径数据进行拼接处理，对比消除倾斜的子孔径拼接结果与全口径直接检测结果，证明了去倾斜处理在子孔径拼接检测处理中的有效性。
学科主题	天文镜面（材料、加工、检测）
公开日期	2013-12-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/432]
专题	南京天文光学技术研究所_中科院南京天光所知识成果_期刊论文南京天文光学技术研究所_大口径光学技术研究室_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	张明意,李新南. 子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法[J]. 光电工程,2006,33(8):117-122.
APA	张明意,&李新南.(2006).子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法.光电工程,33(8),117-122.
MLA	张明意,et al."子孔径拼接检验法中倾斜的影响及消除方法".光电工程 33.8(2006):117-122.