检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法

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	检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法
	杨晓洪 ; 高必烈 ; 崔向群
刊名	光学技术
	2005-07
卷号	31 期号:4 页码:611-613
关键词	干涉条纹的子孔径拼接 Ritchey-Common 检测 Zernike 多项式
中文摘要	提出了用Ritchey-Common 法检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法。通过确立基准点将多幅子孔径检测数据统一到全口径归一化坐标系下进行拼接,解决了在检验光路中因Ritchey 角所引起的投影变形问题和如何消去因被检平面的大曲率所造成的像散。通过Zernike 多项式拟合重建连续波面,可恢复全口径波面图像。
学科主题	天文镜面（材料、加工、检测）
公开日期	2013-12-24
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/401]
专题	南京天文光学技术研究所_中科院南京天光所知识成果_期刊论文南京天文光学技术研究所_大口径光学技术研究室_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	杨晓洪,高必烈,崔向群. 检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法[J]. 光学技术,2005,31(4):611-613.
APA	杨晓洪,高必烈,&崔向群.(2005).检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法.光学技术,31(4),611-613.
MLA	杨晓洪,et al."检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法".光学技术 31.4(2005):611-613.