线阵探测器KLI-2113总剂量辐照性能试验分析

	线阵探测器KLI-2113总剂量辐照性能试验分析
	张航 ; 刘栋斌
刊名	发光学报
	2013-05-15
期号	05 页码:611-616
关键词	电荷耦合器件总剂量辐射暗电流电荷转移效率损伤机理
中文摘要	针对Kodak公司的商用CCD探测器KLI-2113进行了总剂量为30 krad(Si)的60Co-γ辐射试验。对比辐射前后CCD的主要参数变化,分析了总剂量辐射对CCD工作性能的影响,并研究了总剂量辐射导致CCD暗电流增大、电荷转移效率降低以及图像噪声增加等现象的内在机理,为后续CCD抗总剂量辐射加固提供依据和参考。
收录类别	CNKI
语种	中文
公开日期	2014-03-07
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/38901]
专题	长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	张航,刘栋斌. 线阵探测器KLI-2113总剂量辐照性能试验分析[J]. 发光学报,2013(05):611-616.
APA	张航,&刘栋斌.(2013).线阵探测器KLI-2113总剂量辐照性能试验分析.发光学报(05),611-616.
MLA	张航,et al."线阵探测器KLI-2113总剂量辐照性能试验分析".发光学报 .05(2013):611-616.