一种非制冷红外探测系统像素阵列的制作方法 | |
时文华 | |
2013-05-01 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | 102437166A |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
中文摘要 | 本发明涉及一种非制冷红外探测系统像素阵列的制作方法,包括以下步骤:一、在SOI的顶层表面通过光刻结合刻蚀工艺将顶层材料刻穿至到达SOI的埋层材料,在所述SOI的埋层表面形成若干个独立的热隔离柱;二、将所述步骤一中形成的热隔离柱与衬底键合;三、去除SOI的底层材料,露出SOI的埋层底面;四、采用光刻结合刻蚀工艺,对所述步骤三中非热隔离柱区域对应的SOI的埋层进行刻蚀至刻穿,形成若干个独立的像素点;五、采用电子束蒸镀方法,在所述步骤四的像素点表面制备可调谐热光带通滤波器。本发明通过引入键合工艺,在实现像素点之间热隔离的同时,避开使用牺牲层,制造工艺简单可靠,更有利于技术的推广普及。 |
公开日期 | 2014-01-20 |
申请日期 | 2011-10-09 |
专利申请号 | 201110302464.4 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/1499] |
专题 | 苏州纳米技术与纳米仿生研究所_纳米加工公共平台 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 时文华. 一种非制冷红外探测系统像素阵列的制作方法. 102437166A. 2013-05-01. |
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