| 晶粒尺寸对Cr20Ni80电阻率的影响 | |
| 夏天东; 杨健; 王晓军; 张本朋 | |
| 2013-08-23 | |
| 会议日期 | 2013 |
| 关键词 | Cr20Ni80 拉伸变形 再结晶退火 晶粒尺寸 电阻率 |
| 英文摘要 | 本文通过拉伸变形和再结晶退火改变Cr20Ni80的晶粒尺寸,研究了晶粒尺寸对Cr20Ni80电阻率的影响,并分析了原因。结果表明,材料变形越大,晶粒尺寸越小,其电阻率值就相对较高。 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| 源URL | [http://119.78.100.223/handle/2XXMBERH/27995]  |
| 专题 | 兰州理工大学 材料科学与工程学院 |
| 作者单位 | 1.兰州理工大学材料科学与工程学院 2.兰州理工大学甘肃省有色金属新材料省部共建国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 夏天东,杨健,王晓军,等. 晶粒尺寸对Cr20Ni80电阻率的影响[C]. 见:. 2013. |
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