HgCdTe短波红外焦平面探测器校正技术
陈建军; 崔继承; 刘嘉楠; 刘建利; 姚雪峰; 杨晋; 孙慈
刊名光学学报
2019
卷号39期号:02页码:17-22
关键词探测器 校正技术 HgCdTe 红外焦平面探测器 坏像元校正 非均匀性校正
英文摘要在短波红外成像光谱技术的应用背景下,对HgCdTe短波红外焦平面探测器的校正技术进行研究,包括坏像元校正和非均匀性校正,并提出先进行坏像元校正后进行非均匀性校正的探测器校正原则;在标准辐射源下,对正常像元的输出值进行正态分布拟合,并通过3σ准则设定正常像元输出值阈值的方法,确定探测器中坏像元的数量与位置,然后根据短波红外成像光谱技术的应用要求,对坏像元进行光谱二邻域均值替换;坏像元校正完成后,再采用运算量小、实时性强的两点法对探测器进行非均匀性校正。综合校正结果表明:探测器坏像元得到有效剔除,坏像元输出值得到良好校正,且非均匀性校正效果明显,图像细节更加丰富。
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/63807]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
陈建军,崔继承,刘嘉楠,等. HgCdTe短波红外焦平面探测器校正技术[J]. 光学学报,2019,39(02):17-22.
APA 陈建军.,崔继承.,刘嘉楠.,刘建利.,姚雪峰.,...&孙慈.(2019).HgCdTe短波红外焦平面探测器校正技术.光学学报,39(02),17-22.
MLA 陈建军,et al."HgCdTe短波红外焦平面探测器校正技术".光学学报 39.02(2019):17-22.
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