大功率半导体激光器抗腔面灾变性光学损伤技术综述

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	大功率半导体激光器抗腔面灾变性光学损伤技术综述
	宋悦 ; 宁永强 ; 秦莉 ; 陈泳屹 ; 张金龙 ; 张俊 ; 王立军
刊名	半导体光电
	2020
卷号	41 期号:05 页码:618-626
关键词	大功率半导体激光器腔面灾变性光学损伤输出功率可靠性
英文摘要	激光器腔面灾变性光学损伤对大功率半导体激光器的最大输出功率和可靠性有很大的负面影响,是激光器突然失效的主要机制。如何克服腔面灾变性光学损伤,从而获得高性能的大功率半导体激光器成为重要的研究课题。文章首先对腔面灾变性光学损伤的研究历程进行了简要介绍,随后论述了腔面灾变损伤的物理机制及热动力学过程,最后从技术原理、方法、优缺点、改进方法、研究进展及应用现状的角度,逐一对各种抑制腔面灾变损伤的方法进行了归纳和总结。
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内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/64016]
专题	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位	1.中国科学院大学 2.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所发光学及应用国家重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	宋悦,宁永强,秦莉,等. 大功率半导体激光器抗腔面灾变性光学损伤技术综述[J]. 半导体光电,2020,41(05):618-626.
APA	宋悦.,宁永强.,秦莉.,陈泳屹.,张金龙.,...&王立军.(2020).大功率半导体激光器抗腔面灾变性光学损伤技术综述.半导体光电,41(05),618-626.
MLA	宋悦,et al."大功率半导体激光器抗腔面灾变性光学损伤技术综述".半导体光电 41.05(2020):618-626.