以美国亚德诺半导体技术有限公司bipolar/I2L工艺的12位模拟数字转换器AD574为研究对象,在60Coγ辐照条件下累积400 Gy（Si）的电离剂量（Total ionizing dose,TID）,对累积总剂量前后的样品进行激光单粒子翻转（Single-event upset,SEU）试验,获得了0 V、1 V、2.5 V输入信号条件下的输出码值翻转。结果显示:累积400 Gy（Si）电离剂量后,AD574输出码值的翻转向中心码值右侧偏移,同时造成翻转次数的改变。本文初步分析了AD574的TID-SEU协合效应作用机制,认为该现象与模拟/数字转换器内部比较器单粒子瞬态的敏感性有关。累积总剂量后,比较器单粒子瞬态的幅值和宽度显著增大,会导致AD574输出码值翻转分布及次数的变化。该TID-SEU协合效应研究对宇航元器件的抗辐射加固保障提供了有益参考。