宽基线光学交会测量的像点快速高效匹配方法
程志远; 李希宇; 张轩; 李治国; 井峰
2020-12-03
著作权人中国科学院西安光学精密机械研究所
专利号CN202011409685.7
国家中国
文献子类发明专利
产权排序1
英文摘要本发明提供了一种宽基线光学交会测量的像点快速高效匹配方法,解决现有宽基线光学交会测量像点群匹配方法,存在计算量大、匹配效率低、误匹配率高的问题。该方法包括以下步骤:1)像点排序,两站像点按与坐标平面夹角大小排序匹配,省去大量重复计算;2)像点匹配,具体为求解像点与各自基站所形成的射线间的异面直线距离大小结合阈值判断出,两像点是否为同名像点,随着匹配的进行,匹配速度越来越快,可实现两站相机同名像点快速有序匹配,并发明简化的异面直线距离求解方法,有效减小直线间距离计算复杂度,有效提高宽基线光学交会测量像点群匹配速度和正确率。
公开日期2021-04-13
申请日期2020-12-03
语种中文
状态申请中
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95505]  
专题西安光学精密机械研究所_光电测量技术实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
程志远,李希宇,张轩,等. 宽基线光学交会测量的像点快速高效匹配方法. CN202011409685.7. 2020-12-03.
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