| 薄膜X射线衍射原位测试装置 | |
| 王瑞; 刘春泽; 朱大明; 顾月良; 阴广志; 李晓龙 | |
| 2017-04-05 | |
| 著作权人 | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 专利号 | CN206074486U |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 英文摘要 | 本实用新型提供一种薄膜X射线衍射原位测试装置，包括一冷热台腔体和与其相连的一温度控制机构及一冷却机构，所述冷热台腔体包括可拆卸连接的一样品台底座和一压盖，所述压盖与所述样品台底座配合形成一内腔；还包括：一湿度控制机构，所述湿度控制机构连接所述冷热台腔体。本实用新型的一种薄膜X射线衍射原位测试装置可对反应腔体进行高低温控制、湿度控制并可实现原位的电学测试功能，具有调节自由度大、调节精度高、操作便捷、安全度高和成本低的优点。 |
| 公开日期 | 2017-04-05 |
| 申请日期 | 2016-09-18 |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/33605]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王瑞,刘春泽,朱大明,等. 薄膜X射线衍射原位测试装置. CN206074486U. 2017-04-05. |
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