无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉

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	无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉
	赵景红 ; 郭雅琳 ; 宋小平 ; 张宁
	2012-10-31
会议名称	2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
会议日期	2012-10-31
会议地点	北京
关键词	latex condoms talc powder rapid identification X ray diffraction spectrometry
中文摘要	本文采用无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的微量滑石粉,将安全套表面润滑剂均匀涂于无衍射单晶硅基板表面,在X射线衍射仪上测定.测定条件为:采用功率为2 kw的封闭式Cu靶X光管,管电压为40 kV,电流40 mA,扫描范围为2θ=5～60°,扫描方式为步进扫描,扫描间隔为0.02°,停留时间为1 s.在上述条件下,测定了三个生产厂家的样品,实现了对安全套表面润滑剂中的微量滑石粉的快速鉴别.
会议主办者	中国金属学会;中国机械工程学会
会议录	2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
语种	中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://210.72.142.130/handle/321006/71134]
专题	金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	赵景红,郭雅琳,宋小平,等. 无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉[C]. 见:2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012). 北京. 2012-10-31.