正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni3Al中扩散行为的影响

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	正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni3Al中扩散行为的影响
	郭建亭; 李玉芳; 熊良钺
刊名	核技术
	2005
卷号	28.0 期号:012 页码:909-912
关键词	正电子湮没 Ni3Al Zr 水冷空冷扩散
ISSN号	0253-3219
其他题名	Diffusive behavior of Zr in Ni3AI measured by positron annihilation technique
英文摘要	测量了在Ni3Al（Zr）合金经高温均匀化处理后，在空冷和水冷条件下的正电子寿命谱。结果表明，Ni3Al（Zr）合金经高温均匀化后，随即进行空冷时，随着Zr含量的增加，正电子在合金中的寿命谱特征参数降低，捕获率置降低。表明Zr原子扩散到晶界，并在晶界偏聚。而合金经高温均匀化后水冷时，合金的正电子寿命谱特征参数随着Zr含量的增加几乎没有变化。由于冷却速度较快，Zr原子来不及扩散到晶界上，而以固溶方式存在于Ni3Al基体中。
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:2045344
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/141731]
专题	金属研究所_中国科学院金属研究所
作者单位	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	郭建亭,李玉芳,熊良钺. 正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni3Al中扩散行为的影响[J]. 核技术,2005,28.0(012):909-912.
APA	郭建亭,李玉芳,&熊良钺.(2005).正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni3Al中扩散行为的影响.核技术,28.0(012),909-912.
MLA	郭建亭,et al."正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni3Al中扩散行为的影响".核技术 28.0.012(2005):909-912.