基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量

doi:10.3788/CJL202047.0604006

CORC > 光电技术研究所 > 中国科学院光电技术研究所 > 自适应光学技术研究室（八室）

	基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量
	杜星湖 ; 薛颖 ; 何星 ; 王帅 ; 杨平 ; 许冰
刊名	中国激光
	2020-06-10
卷号	47 期号:6 页码:222-226
关键词	测量光腔衰荡技术高反射率测量耦合光腔衰荡技术基横模
ISSN号	0258-7025
DOI	10.3788/CJL202047.0604006
文献子类	期刊论文
英文摘要	为提升光腔衰荡高反射率测量技术的精度,提出了一种基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量方法。该方法在耦合光腔衰荡系统中引入衰荡腔腔内模式监测模块,以腔内运行模式为判据寻找初始腔和测试腔耦合效率一致的状态,从而实现更高的测量精度。实验结果表明:在确保腔内模式处于基横模状态时,初始腔和测试腔腔内的等效损耗降低值几乎一致;对于同一高反射率待测样片,该技术对比传统方法可实现10.0%～27.1%测量精度的提升。
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语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9994]
专题	光电技术研究所_自适应光学技术研究室（八室）
作者单位	1.中国科学院大学 2.中国科学院光电技术研究所 3.中国科学院自适应光学重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	杜星湖,薛颖,何星,等. 基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量[J]. 中国激光,2020,47(6):222-226.
APA	杜星湖,薛颖,何星,王帅,杨平,&许冰.(2020).基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量.中国激光,47(6),222-226.
MLA	杜星湖,et al."基于耦合光腔衰荡技术的高反射率测量".中国激光 47.6(2020):222-226.