地表粗糙度参数化研究综述

	地表粗糙度参数化研究综述
	江冲亚; 方红亮; 魏珊珊
刊名	地球科学进展
	2012
卷号	027 期号:003 页码:292
ISSN号	1001-8166
英文摘要	粗糙度反映了地表的起伏程度，是许多陆面过程的关键影响因子。然而，人们对地表系统认识的不足，造成现有的各种地表粗糙度参数化方案均存在一定的问题。从地表测量技术、粗糙度相关参数和遥感研究3个方面对地表粗糙度参数化研究现状进行了综述。针式廓线法和激光廓线法是当前主流的地表测量技术，而三雏激光扫描和摄影测量技术已展示出了较大的潜力。基于统计方法和基于分形理论的粗糙度相关参数具有截然不同的物理意义，但地表复杂的多尺度特性使得很难用一类参数进行描述。光学遥感与微波遥感均具有广阔的前景，其中前者需要注意与经典粗糙度参数化方案相结合，后者则需拓展在下一代遥感平台上的技术与方法。还针对不同尺度粗糙度参数的比较与转换，地表粗糙度的空间异质性与各向异性，以及三维表面粗糙度参数化等当前地表粗糙度参数化研究中的一些关键问题进行了讨论。
语种	英语
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.igsnrr.ac.cn/handle/311030/85333]
专题	中国科学院地理科学与资源研究所
作者单位	中国科学院地理科学与资源研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	江冲亚,方红亮,魏珊珊. 地表粗糙度参数化研究综述[J]. 地球科学进展,2012,027(003):292.
APA	江冲亚,方红亮,&魏珊珊.(2012).地表粗糙度参数化研究综述.地球科学进展,027(003),292.
MLA	江冲亚,et al."地表粗糙度参数化研究综述".地球科学进展 027.003(2012):292.