一种半导体激光器的测试和老化装置及使用方法 | |
杨扬; 孙素娟; 苏建; 江建民; 李沛旭; 徐现刚 | |
2016-10-05 | |
著作权人 | 山东华光光电子股份有限公司 |
专利号 | CN105988069A |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 一种半导体激光器的测试和老化装置及使用方法 |
英文摘要 | 一种半导体激光器的测试和老化装置,包括测试部和器件待测部;测试部包括有弹簧片、驱动弹簧片上下位移的固定块;弹簧片包括有开口回形弯曲段和L形测试段;在L形测试段的末端连接有绝缘块;在绝缘块上设置有两个彼此绝缘的弹簧针,分别将激光器COS或器件的正、负极接出;固定块包括C形开口,弹簧片的开口回形弯曲段设置在所述C形开口内,并通过贯穿于C形开口的螺钉对开口回形弯曲段挤压或释放,实现所述L形测试段与器件待测部之间的距离调节。本发明可实现对半导体激光器COS或器件的快速测试、分选及批量测试,也可在半导体激光器COS或器件的老化过程中实时的对各类参数进行检测,避免将不良品组装成器件导致的成本上升和原材料浪费。 |
公开日期 | 2016-10-05 |
申请日期 | 2015-01-29 |
状态 | 申请中 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93017] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 山东华光光电子股份有限公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨扬,孙素娟,苏建,等. 一种半导体激光器的测试和老化装置及使用方法. CN105988069A. 2016-10-05. |
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