一种半导体激光器芯片的测试系统 | |
胡海; 刘文斌; 王泰山; 李成鹏; 方继林 | |
2017-10-10 | |
著作权人 | 深圳清华大学研究院 |
专利号 | CN206546412U |
国家 | 中国 |
文献子类 | 实用新型 |
其他题名 | 一种半导体激光器芯片的测试系统 |
英文摘要 | 本实用新型公开了一种半导体激光器芯片的测试系统,包括测试柜、测试电源、空气粒子计数器和计算机处理子系统;测试柜,其包括装载平台,多个待测试的芯片组件放置在所述装载平台上;测试电源,用以向所述多个待测试的芯片组件提供测试电流;空气粒子计数器,设置在所述测试柜中,用于监控所述测试柜内的空气洁净度;计算机处理子系统,分别与所述测试电源和所述空气粒子计数器连接,用以根据所述空气洁净度,向所述测试电源发出相应的控制指令。通过上述方式,本实用新型能够提高测试的安全性,避免因半导体激光器芯片组件意外失效带来的损失。 |
公开日期 | 2017-10-10 |
申请日期 | 2017-01-20 |
状态 | 授权 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91194] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 深圳清华大学研究院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡海,刘文斌,王泰山,等. 一种半导体激光器芯片的测试系统. CN206546412U. 2017-10-10. |
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