| 电子照相用感光体及其制造方法 | |
| 桥本昌树; 森田和茂; 角井幹男; 田中裕二; 坂元雅遊亀 | |
| 2004-04-21 | |
| 著作权人 | 夏普株式会社 |
| 专利号 | CN1490676A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 电子照相用感光体及其制造方法 |
| 英文摘要 | 本发明的目的在于通过限制导电衬底的表面粗糙度来防止出现图像的干涉条纹，并且可以通过光学干涉测量法精确地测量层的厚度。设置在电子照相用感光体(10)中的导电衬底(11)的表面粗糙度轮廓最大高度Ry＝0.8～4μm、轮廓算术平均偏差Ra＝0.10～0.15μm、微观不平度十点高度Rz＝0.7～3μm和轮廓微观不平度的平均距离Sm＝5～30μm，并且峰数Pc＝60～100。在此电子照相用感光体(10)中，用于曝光的光束散射到可以避免干涉条纹的程度，并且在通过光学干涉测量法测量光敏层的厚度期间形成一种干涉图案，使得可以高精度地测量层的厚度。 |
| 公开日期 | 2004-04-21 |
| 申请日期 | 2003-09-12 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/90635]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 夏普株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 桥本昌树,森田和茂,角井幹男,等. 电子照相用感光体及其制造方法. CN1490676A. 2004-04-21. |
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