真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置 | |
谢友金; 高雄; 崔凯; 刘鹏 | |
2019-03-12 | |
著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
专利号 | CN201910185219.6 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 为了更精准地测试导电滑环摩擦副摩擦磨损特性,本发明提供了一种真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置,通过五维精密位移台实现刷丝(或束、块)压力加载、动态力矩传感采集摩擦力矩、直流无刷电机与行星减速器驱动、真空润滑处理保证装置真空使用寿命等技术手段,实现了空间导电滑环摩擦副性能精准测试,为空间导电滑环的研制提供有力保障。 |
公开日期 | 2019-07-05 |
申请日期 | 2019-03-12 |
语种 | 中文 |
状态 | 申请中 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93861] ![]() |
专题 | 西安光学精密机械研究所_光电测量技术实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 谢友金,高雄,崔凯,等. 真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置. CN201910185219.6. 2019-03-12. |
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