快电子对快离子损失诊断测量的影响

	快电子对快离子损失诊断测量的影响
	金钊 1; 常加峰 1; 黄娟 1; 吴承瑞 1; 林士耀 1
刊名	核技术
	2017
卷号	40
关键词	闪烁体快离子损失诊断逃逸电子
ISSN号	0253-3219
其他题名	The effect of fast electrons on fast ion loss detector
英文摘要	基于闪烁体原理的快离子损失探针(Fast Ion Loss Detector, FILD),可以同时测量损失快离子的能量和pitch-angle的值,是核聚变装置中对高能粒子诊断的重要方式。根据先进实验超导托卡马克(Experimental Advanced Superconducting Tokamak, EAST)的发展需求,为了更好地对损失快离子行为进行研究,设计并安装了快离子损失诊断,且探测到在中性束加热条件下产生的损失快离子。同时,探测到在放电中产生的逃逸电子,以及低杂波注入时快电子产生X射线对快离子损失背景信号的影响。并且在H-mode放电时边界扰动也对快离子损失信号产生影响,这些探测到的现象都为不断升级损失诊断系统提供依据。
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:6109473
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/52100]
专题	中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位	1.中国科学院等离子体物理研究所 2.中国科学院等离子体物理研究所 3.中国科学院等离子体物理研究所 4.中国科学院等离子体物理研究所 5.中国科学院等离子体物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	金钊,常加峰,黄娟,等. 快电子对快离子损失诊断测量的影响[J]. 核技术,2017,40.
APA	金钊,常加峰,黄娟,吴承瑞,&林士耀.(2017).快电子对快离子损失诊断测量的影响.核技术,40.
MLA	金钊,et al."快电子对快离子损失诊断测量的影响".核技术 40(2017).