C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制

	C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制
	吴越 1; 刘家祥 1; 方勇华 1; 张蕾蕾 1; 杨文康 1
刊名	红外与激光工程
	2019
卷号	048
关键词	红外光谱仪平板波导背景辐射杂光系数
ISSN号	1007-2276
其他题名	Background radiation analysis and suppression of C-T type planar waveguide infrared spectrometer system
英文摘要	红外光谱仪内部背景辐射在长波红外波段(8~12μm)影响比较显著,会严重降低光学系统的分辨率和信噪比。利用TracePro光学分析软件,对基于交叉非对称Czerny-Turner(C-T)型平板波导红外光谱仪进行了背景辐射分析,包括机械构件表面发射率以及光学元件表面温度对背景辐射的影响。引入了杂光系数作为评价指标,根据仿真分析结果,在高低温箱中,对该红外光谱仪的背景辐射影响采取抑制措施并进行了实验测量,实验结果证明:采取背景辐射抑制措施后,C-T型平板波导光谱仪系统的杂光系数在常温下(298 K)能达到5%以下。
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:6559289
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/50041]
专题	中国科学院合肥物质科学研究院
作者单位	1.中国科学院安徽光学精密机械研究所 2.中国科学技术大学
推荐引用方式 GB/T 7714	吴越,刘家祥,方勇华,等. C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制[J]. 红外与激光工程,2019,048.
APA	吴越,刘家祥,方勇华,张蕾蕾,&杨文康.(2019).C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制.红外与激光工程,048.
MLA	吴越,et al."C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制".红外与激光工程 048(2019).