TiAl-W-Si合金中的偏析与析出相的分析电子显微术研究

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	TiAl-W-Si合金中的偏析与析出相的分析电子显微术研究
	于荣 ; 贺连龙 ; 程志英 ; 朱静 ; 叶恒强
	2002-09-01
会议名称	第十一届全国钛及钛合金学术交流会议
会议日期	2002-09-01
会议地点	宝鸡
关键词	分析电子显微术 TiAl合金析出相偏析钛合金
中文摘要	用高空间分辨分析电子显微术研究了TiAl-W-Si合金中B2相的析出行为和元素W的分布.结果表明,α<,2>/γ相界面台阶由于W的富集而成为B2析出相的择尤形核位置.B2相中,高达三分之一的Al原子被W原子置换,而在γ相中只固溶了很有限的W.另外,W也偏析在α<,2>/γ和B2/γ相界面上.这些结果合理地解释了W对提高TiAl合金蠕变性能的显著作用.
会议主办者	中国金属学会;中国材料研究学会;中国有色金属学会
会议录	金属学报第38卷增刊
会议录出版者	《金属学报》编辑部
会议录出版地	沈阳
语种	中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://210.72.142.130/handle/321006/70074]
专题	金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	于荣,贺连龙,程志英,等. TiAl-W-Si合金中的偏析与析出相的分析电子显微术研究[C]. 见:第十一届全国钛及钛合金学术交流会议. 宝鸡. 2002-09-01.