光半導体装置
森本 卓夫
1999-11-30
著作权人日本電気株式会社
专利号JP1999330637A
国家日本
文献子类发明申请
其他题名光半導体装置
英文摘要【課題】選択成長によるpnpnサイリスタ構造を有する半導体レーザにおいて、内部損失が増えるデメリットのないように、ターンオン防止のキャリア再結合層を挿入し、閾値の低減、温度特性の向上、最大光出力の向上を実現する。 【解決手段】バッファー層付p型InP基板の上に、p-クラッド層4、SCH-歪MQW層5、n-クラッド層10の台形形状の選択成長部があり、3μm光の導波部となっている。その左右には、下から順に、p-InP埋込層12、n-InP部層13が0.4μm、p-InP部層14が2μm、3μm組成4元ウェル/05μm組成4元バリアのSCH-MQWキャリア再結合層15が0.1μmある。これら全体を埋め込む形で、n-InPクラッド埋込層17と、その上部にn-InGaAsPコンタクト層18が0.4μmある。
公开日期1999-11-30
申请日期1996-03-28
状态失效
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/79565]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位日本電気株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
森本 卓夫. 光半導体装置. JP1999330637A. 1999-11-30.
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