| 半透明介质材料光热特性测量系统与方法 | |
| 刘俊岩; 王扬; 王飞 | |
| 2015-09-02 | |
| 著作权人 | 哈尔滨工业大学 |
| 专利号 | CN104880437A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半透明介质材料光热特性测量系统与方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种半透明介质材料光热特性测量系统与方法，所述测量系统由计算机、二维移动台、支架、小离轴抛物镜、准直镜、光纤、半导体激光器、大离轴抛物镜、电源线、激光器电源、HCT热探测器、BNC数据线、前置放大器、激光器控制线、锁相放大器、锁相放大器控制线、数据采集信号线构成，所述测量方法基于光热辐射测量原理，采用计算机控制函数发生器产生调制信号，信号控制激光器使其光强按调制规律变化，调制变化的激光照射到样件后由于存在光热效应，样件出现温度涨落与红外辐射，光热辐射信号与样件光热特性参数相关，信号被HCT热探测器接收，进而通过数学运算提取样件光热特性参数。本发明可以实现材料完全无损伤、非接触、高效测量。 |
| 公开日期 | 2015-09-02 |
| 申请日期 | 2015-06-24 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/67005]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 哈尔滨工业大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘俊岩,王扬,王飞. 半透明介质材料光热特性测量系统与方法. CN104880437A. 2015-09-02. |
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