基于可溯源精测尺的半导体激光器测距装置与方法
谭久彬; 杨宏兴; 胡鹏程
2014-09-10
著作权人哈尔滨工业大学
专利号CN104034264A
国家中国
文献子类发明申请
其他题名基于可溯源精测尺的半导体激光器测距装置与方法
英文摘要基于可溯源精测尺的半导体激光器测距装置与方法属于相位激光测距技术,所述测距装置包括测尺生成单元、激光移频单元、扩束准直镜组、测量光路及电路单元;其测距方法包括步骤如下:步骤一、开启频率基准激光器和半导体激光器;步骤二、一束作为参考激光束,另一束作为测量激光;步骤三、以作为精测尺;步骤四、以作为粗测尺;步骤五、移动测量棱镜至目标端,分别得到精测尺与粗测尺的相位差Φ1和Φ2,最后通过公式得到被测距离值;本发明解决了相位激光测距技术中缺少一种能兼顾大功率、多测尺同步性与可溯源性的激光测距装置与方法的问题,具有测距灵活性高、测量效率和测量精度高、稳定性和实时性强的特点。
公开日期2014-09-10
申请日期2014-06-14
状态授权
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66296]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位哈尔滨工业大学
推荐引用方式
GB/T 7714
谭久彬,杨宏兴,胡鹏程. 基于可溯源精测尺的半导体激光器测距装置与方法. CN104034264A. 2014-09-10.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace