| 基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法 | |
| 周常河; 王晓鑫; 张军; 谢金; 贾伟 | |
| 2008-09-17 | |
| 著作权人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 专利号 | CN101264002A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法 |
| 英文摘要 | 一种基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法，该装置是由光纤导像束、振幅型透射光栅、准直透镜、半导体激光器光源、微型面阵CCD探测器、传输线、图像采集卡和计算机构成，所述的计算机具有相应的图像处理和三维形貌计算重构软件。本发明方法的核心是在内窥观测中将振幅型透射光栅投影到待测表面上，光栅条纹受待测表面调制产生形变，通过CCD成像系统采集形变的光栅条纹，经过计算机图像处理，再通过三维形貌重建算法，获得待测目标的三维形貌信息。本发明能够获得内窥对象的三维形貌信息，并具有测量速度快、测量精度较和方法简单的特点。 |
| 公开日期 | 2008-09-17 |
| 申请日期 | 2008-05-06 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63861]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周常河,王晓鑫,张军,等. 基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法. CN101264002A. 2008-09-17. |
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