相移电控制取样光栅半导体激光器及其设置方法
周亚亭; 陈向飞
2013-02-06
著作权人南京大学
专利号CN102916340A
国家中国
文献子类发明申请
其他题名相移电控制取样光栅半导体激光器及其设置方法
英文摘要本发明提出了一种基于相移电控制的取样光栅半导体激光器,所述的DFB半导体激光器结构由第一与第二两个取样光栅区和一个相移区组成;两边取样光栅区中的光栅是取样布拉格光栅(SBG),中间为相移区,取样周期从1微米到数十微米量级;两个取样光栅区的电极连接在一起,但与相移区的电极相隔离;取样光栅区和相移区的有效折射率与长度,分别用nSBG和nP、LSBG和LP来表示;只要改变取样周期P的大小,就能实现对激光器激射波长的初步控制;构成相移电控制的取样布拉格光栅分布反馈式(DFB)半导体激光器。
公开日期2013-02-06
申请日期2012-09-29
状态授权
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63624]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位南京大学
推荐引用方式
GB/T 7714
周亚亭,陈向飞. 相移电控制取样光栅半导体激光器及其设置方法. CN102916340A. 2013-02-06.
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