相移电控制取样光栅半导体激光器及其设置方法 | |
周亚亭; 陈向飞 | |
2013-02-06 | |
著作权人 | 南京大学 |
专利号 | CN102916340A |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 相移电控制取样光栅半导体激光器及其设置方法 |
英文摘要 | 本发明提出了一种基于相移电控制的取样光栅半导体激光器,所述的DFB半导体激光器结构由第一与第二两个取样光栅区和一个相移区组成;两边取样光栅区中的光栅是取样布拉格光栅(SBG),中间为相移区,取样周期从1微米到数十微米量级;两个取样光栅区的电极连接在一起,但与相移区的电极相隔离;取样光栅区和相移区的有效折射率与长度,分别用nSBG和nP、LSBG和LP来表示;只要改变取样周期P的大小,就能实现对激光器激射波长的初步控制;构成相移电控制的取样布拉格光栅分布反馈式(DFB)半导体激光器。 |
公开日期 | 2013-02-06 |
申请日期 | 2012-09-29 |
状态 | 授权 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63624] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 南京大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 周亚亭,陈向飞. 相移电控制取样光栅半导体激光器及其设置方法. CN102916340A. 2013-02-06. |
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