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	半导体激光器退化测试与寿命预测实验平台
	王贵山; 杨鹏; 邱静; 刘冠军; 吕克洪; 张勇; 谢皓宇; 沈亲沐; 季明江; 赵志傲
	2017-02-22
著作权人	中国人民解放军国防科学技术大学
专利号	CN106441806A
国家	中国
文献子类	发明申请
其他题名	半导体激光器退化测试与寿命预测实验平台
英文摘要	本发明提供了一种半导体激光器退化测试与寿命预测实验平台，包括计算机分析系统、半导体激光器驱动控制系统和数据传输系统。所述计算机分析系统通过数据传输系统接收半导体激光器的状态数据并做计算和分析，实现曲线绘制、退化测试和寿命预测等功能；所述半导体激光器驱动控制系统通过数据传输系统接收并解析参数设置和模式控制数据包，对半导体激光器调制电流、偏置电流、光功率和温度的控制。本发明在不影响半导体激光器正常调制工作的前提下，能够对其退化表征参数进行测试，并能采集工作中的电流、电压、温度应力进行寿命预测，实验平台能够用于半导体激光器出厂测试、光电子器件特性和激光通信的实验和教学科研。
公开日期	2017-02-22
申请日期	2016-08-31
状态	授权
内容类型	专利
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63520]
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国人民解放军国防科学技术大学
推荐引用方式 GB/T 7714	王贵山,杨鹏,邱静,等. 半导体激光器退化测试与寿命预测实验平台. CN106441806A. 2017-02-22.

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