| 用于测量激光源的频率调制的方法 | |
| J·米内; G·皮耶; P·费内鲁 | |
| 2018-03-16 | |
| 著作权人 | 泰勒斯公司 |
| 专利号 | CN107810396A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 用于测量激光源的频率调制的方法 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种用于测量激光源的频率调制f(t)的方法，其包括以下步骤：‑用调制控制器对一个周期T上的激光源进行调制，‑在相同的周期T期间，执行干涉仪的两个臂之间的差拍光强度的多个测量，所述干涉仪位于激光源的下游，并能够在所述两个臂之间引入延迟τ，所述测量与调制的控制同步，‑从测量来计算频率f(t)，‑在每个周期T期间，f(t)变化，而延迟τ被认为是恒定的，‑延迟τ在多个周期T内随时间变化，‑在相同的周期期间，在时间ti处进行的测量在ti+kT处重复，其中k≥1，并且延迟τ从一次迭代到下一次迭代变化。 |
| 公开日期 | 2018-03-16 |
| 申请日期 | 2016-03-16 |
| 状态 | 申请中 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62731]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 泰勒斯公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | J·米内,G·皮耶,P·费内鲁. 用于测量激光源的频率调制的方法. CN107810396A. 2018-03-16. |
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