用于测量激光源的频率调制的方法 | |
J·米内; G·皮耶; P·费内鲁 | |
2018-03-16 | |
著作权人 | 泰勒斯公司 |
专利号 | CN107810396A |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 用于测量激光源的频率调制的方法 |
英文摘要 | 本发明涉及一种用于测量激光源的频率调制f(t)的方法,其包括以下步骤:‑用调制控制器对一个周期T上的激光源进行调制,‑在相同的周期T期间,执行干涉仪的两个臂之间的差拍光强度的多个测量,所述干涉仪位于激光源的下游,并能够在所述两个臂之间引入延迟τ,所述测量与调制的控制同步,‑从测量来计算频率f(t),‑在每个周期T期间,f(t)变化,而延迟τ被认为是恒定的,‑延迟τ在多个周期T内随时间变化,‑在相同的周期期间,在时间ti处进行的测量在ti+kT处重复,其中k≥1,并且延迟τ从一次迭代到下一次迭代变化。 |
公开日期 | 2018-03-16 |
申请日期 | 2016-03-16 |
状态 | 申请中 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62731] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 泰勒斯公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | J·米内,G·皮耶,P·费内鲁. 用于测量激光源的频率调制的方法. CN107810396A. 2018-03-16. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论