| 微镜检测方法及其检测装置 | |
| 郭建峰 | |
| 2005-01-26 | |
| 著作权人 | 明基电通股份有限公司 |
| 专利号 | CN1570555A |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 微镜检测方法及其检测装置 |
| 英文摘要 | 本发明提供一种微镜检测方法，包括下述步骤，先将微镜组件设于承座的微镜承靠面。再利用光源朝向微镜组件射出光束。光束从微镜组件反射至靶面，并在该靶面上投射出一第二光点。测量该第二光点相对于基准点的距离X，并由此计算微镜组件于承座上的倾斜度。 |
| 公开日期 | 2005-01-26 |
| 申请日期 | 2003-07-15 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62710]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 明基电通股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭建峰. 微镜检测方法及其检测装置. CN1570555A. 2005-01-26. |
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