発光装置の異常検出方法及び発光装置
佐藤 大祐
2019-07-11
著作权人日亜化学工業株式会社
专利号JP2019114706A
国家日本
文献子类发明申请
其他题名発光装置の異常検出方法及び発光装置
英文摘要【課題】波長変換部材の欠損をより確実に検出することができる発光装置の異常検出方法及びその検出方法を実現し得る構成を備えた発光装置を提供することを目的とする。 【解決手段】励起光を発し、パルス駆動可能に制御し得る半導体レーザ素子と、蛍光体を含み、前記励起光が照射されることにより蛍光を発する波長変換部材と、前記波長変換部材の光取り出し側に配置され、前記励起光を検出し得る受光素子とを備える発光装置の異常検出方法であって、前記半導体レーザ素子への電圧印加の開始から前記波長変換部材より取り出される光の光強度が最大となるまでの時間より短いパルス幅で印加電圧をパルス制御することにより前記半導体レーザ素子をパルス駆動してレーザ発振させ、前記励起光の光強度又は前記励起光及び前記蛍光の双方の光強度を測定し、前記測定した光強度が所定の範囲内に含まれるか否かを判断することを含む発光装置の異常検出方法。 【選択図】図1A
公开日期2019-07-11
申请日期2017-12-25
状态申请中
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62345]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位日亜化学工業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
佐藤 大祐. 発光装置の異常検出方法及び発光装置. JP2019114706A. 2019-07-11.
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