光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
ジレルモ テアネイ; スティーブン エイ. ボッパート; ブレット イー. バウマ; マーク ブルジンスキー; エリック エイ. スワンソン; ジェイムズ ジー. フジモト
2002-07-31
著作权人マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー
专利号JP2002214127A
国家日本
文献子类发明申请
其他题名光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
英文摘要【課題】 従来の撮像方法および従来技術の制約に関連する問題を克服することを目的とする。高解像度画像を提供し、また、医療処置中に使用して、医療従事者が処置を観察するか、または処置中に処置プロセスの制御をアクティブに補助することを目的とする。 【解決手段】 本発明の光学撮像システムは、内視鏡ユニットと、光学コヒーレンス断層撮影(OCT)方法を利用して構造体の多次元走査を行う干渉計とを備えている。本発明はOCTを用いて、構造体の高解像度撮像を行う。OCTは、コヒーレンス長が短いかまたは周波数を調整可能な光源を用いて、干渉測定により構造体の光学特性を測定する。
公开日期2002-07-31
申请日期1997-02-27
状态失效
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/60061]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー
推荐引用方式
GB/T 7714
ジレルモ テアネイ,スティーブン エイ. ボッパート,ブレット イー. バウマ,等. 光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置. JP2002214127A. 2002-07-31.
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