III-V族化合物半導体膜の形成方法
武部 敏彦; 藤井 元忠; 山本 悌二; 藤田 和久; 小林 規矩男
1994-03-11
著作权人株式会社エイ·ティ·アール光電波通信研究所
专利号JP1994069129A
国家日本
文献子类发明申请
其他题名III-V族化合物半導体膜の形成方法
英文摘要【目的】 MBE法を用いてIII-V族化合物半導体膜の結晶を段差を有する基板上に成長させるときに余分なファセットが出現せず、しかも元の段差の傾斜部の角度を保持して結晶を成長させることができる方法を提供する。 【構成】 GaAs基板の(111)A面上に正三角形状のレジストパターンの1辺がGaAs基板の劈開面に対して垂直な方向に平行となるようにレジストマスクパターンを形成し、マスクパターンが形成されたGaAs基板に対して選択エッチング処理を行って、その各辺の近傍に(111)A面に対して28°≦θ≦33°の範囲の傾斜角θだけ傾斜する斜面を有する段差を形成し、マスクパターンを除去し、GaAs基板及び斜面上にMBE法を用いてIII-V族化合物半導体膜を形成する。
公开日期1994-03-11
申请日期1992-08-18
状态失效
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/59803]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位株式会社エイ·ティ·アール光電波通信研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
武部 敏彦,藤井 元忠,山本 悌二,等. III-V族化合物半導体膜の形成方法. JP1994069129A. 1994-03-11.
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