QQ客服 官方微博 反馈留言

	一种半导体激光芯片的测试设备及方法
	万怡富
	2019-10-15
著作权人	江西德瑞光电技术有限责任公司
专利号	CN110333051A
国家	中国
文献子类	发明申请
其他题名	一种半导体激光芯片的测试设备及方法
英文摘要	本发明提供一种半导体激光芯片的测试设备及方法，该设备包括：机架；设于机架上的摆动测试机构，摆动测试机构包括与机架摆动连接的第一支架、与第一支架摆动连接的第二支架、驱动第一支架相对机架摆动的第一驱动器、以及驱动第二支架相对第一支架摆动的第二驱动器；芯片装载平台，设置在第二支架上，其上设有芯片装载位；光束测试机构，设置在机架上并位于摆动测试机构的一侧，用于在摆动测试机构驱动待测芯片摆动时，对待测芯片发出的光束进行光电转换测试，并得出芯片的测试数据。本发明中采用逐角度扫描法来测试光束发散角，且设计了可驱动芯片朝多个方向摆动的机构，实现对芯片多个方向的光束发射角进行测试，提高测试效率及数据的全面性。
公开日期	2019-10-15
申请日期	2019-09-03
状态	申请中
内容类型	专利
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/57270]
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	江西德瑞光电技术有限责任公司
推荐引用方式 GB/T 7714	万怡富. 一种半导体激光芯片的测试设备及方法. CN110333051A. 2019-10-15.

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。