一种相位差解调式光纤位移测量方法及仪器
陈珂; 于清旭
2018-05-15
著作权人大连理工大学
专利号CN108036728A
国家中国
文献子类发明申请
其他题名一种相位差解调式光纤位移测量方法及仪器
英文摘要一种相位差解调式光纤位移测量仪器及方法,属于光纤传感技术领域。该系统包括触摸屏、控制与信号处理电路、激光二极管、光纤分束器、测量通道光纤耦合器、测量光纤、参考通道光纤耦合器、参考光纤、测量通道光电二极管和参考通道光电二极管。在测量光纤上选取两点固定于待测结构,待测结构的位移量转换为测量光纤长度的变化量,用于温度补偿的参考光纤同时铺设在待测结构表面,高频调制激光在测量光纤和参考光纤端面反射的信号光之间的相位差正比于两根光纤之间的长度差,通过高精度相位差解调实现对待测结构绝对位移的高分辨率和大动态范围测量。本发明将位移测量中高精度光纤长度测量转换为相对简单的两束信号光的相位差测量,仅采用低成本的光电子、电子器件和普通单模光纤,为结构健康监测中的位移测量提供了一种极具竞争力的技术方案。
公开日期2018-05-15
申请日期2017-12-14
状态申请中
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56764]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位大连理工大学
推荐引用方式
GB/T 7714
陈珂,于清旭. 一种相位差解调式光纤位移测量方法及仪器. CN108036728A. 2018-05-15.
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