基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法
余学才; 刘光明; 马飞; 鲁楷锋
2018-03-02
著作权人成都多极子科技有限公司
专利号CN107747914A
国家中国
文献子类发明申请
其他题名基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法
英文摘要本发明公开了一种基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法,装置包括三只均匀分布在被测物体周围的半导体线激光器,三个均匀分布在被测物体周围的摄像机,用于对摄像机采集到的图像进行图像处理的计算机;半导体激光器分别通过并口连接计算机,摄像机分别通过图像采集卡与计算机相连。本发明采用三个线结构半导体激光器和三个工业摄像机实现快速横截面轮廓采集,更客观、准确地反映了被测截面的测量信息,测量无需旋转光学系统平台,简化了系统的结构;不用进行复杂的坐标转换和旋转,大大降低了融合错位所造成测量误差的可能性;本发明的360°轮廓测量过程只需要对三幅图片进行融合,融合方法更简单高效。
公开日期2018-03-02
申请日期2017-10-11
状态申请中
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56660]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位成都多极子科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
余学才,刘光明,马飞,等. 基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法. CN107747914A. 2018-03-02.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace