测距设备 | |
H·艾贝斯; H·贝纳德; K·盖格; J·兴德林 | |
1996-05-29 | |
著作权人 | 莱卡地球系统公开股份公司 |
专利号 | CN1123573A |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 测距设备 |
英文摘要 | 本发明的测距设备具有一个由半导体激光器 (10)产生的可见光测量光束(11);一个准直器物镜 (12),用于在准直器物镜(12)的光轴(13)的方向把测 量光束进行准直;一个调制测量光束的电路装置;一 个接收物镜(15),用于接收和把一个远距离被测物体 (16)反射回来的测量光束成像到一个接收装置上;一 个可接入的光偏转装置(28),用于产生一个介于半导 体激光器(10)和接收装置之间的内部参考距离;和一 个电子分析装置(25),用于测出和显示所测量的被测 物体(16)的距离。根据本发明,接收装置有一段光导 纤维(17′)与光电转换器(24)连接,其中为测量远距 离物体把光导纤维入射面(17)安置在接收物镜(15) 的成像平面内,并且可控制入射面由此位置(18)垂直 于光轴(14)移动(18′)。在另一种可选择的结构中, 光导纤维入射面(17)是固定的,而在接收物镜(15)的 光轴(14)之外,设置某些光学部件(36),对较近距离 被测物体,这些光学部件把测量光束偏转到接收物镜 (15)的光轴(14)。测量光束是用小于两毫微秒脉宽 的激励脉冲调制的。 |
公开日期 | 1996-05-29 |
申请日期 | 1994-05-04 |
状态 | 失效 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56511] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 莱卡地球系统公开股份公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | H·艾贝斯,H·贝纳德,K·盖格,等. 测距设备. CN1123573A. 1996-05-29. |
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