气相共形薄膜生长制备光子量子点的方法
陈坤基; 陈三; 钱波; 李卫; 张贤高; 李伟; 徐骏; 黄信凡
2009-02-25
著作权人南京大学
专利号CN100464472C
国家中国
文献子类授权发明
其他题名气相共形薄膜生长制备光子量子点的方法
英文摘要气相共形薄膜生长制备的光子量子点,在玻璃和硅衬底先设有横向尺寸为0.5-5μm,高度为0.4-2μm的柱形平台;在其上设有以共形薄膜生长制备有源层为a-SiNz的受DBR三维限制微腔;其中设有两个DBR位于有源层两侧,微腔的谐振波长为λ,DBR包括6±2个周期的低折射率层和高折射层的a-SiNx/a-SiNy薄膜,每个折射层厚度为λ/(4n);n是折射率,有源层是折射率在低折射率层和高折射率层之间a-SiNx薄膜,厚度为λ/(2n)。
公开日期2009-02-25
申请日期2007-04-05
状态失效
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49182]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位南京大学
推荐引用方式
GB/T 7714
陈坤基,陈三,钱波,等. 气相共形薄膜生长制备光子量子点的方法. CN100464472C. 2009-02-25.
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