| 牺牲波导测试结构 | |
| N.D.怀特布里德; L.N.朗利; A.C.卡特 | |
| 2015-12-16 | |
| 著作权人 | 奥兰若技术有限公司 |
| 专利号 | CN102449456B |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 牺牲波导测试结构 |
| 英文摘要 | 牺牲光学测试结构被构造在预分开的光学芯片（10）的晶片（100）上，用于测试预分开的光学芯片（10）的光学功能。牺牲光学结构在从晶片（100）分开光学芯片（10）时被停用，并且被分开的光学芯片（10）可以用于它们期望的端功能。测试结构可以留在分开的光学芯片（10）上或者它们可以被丢弃。 |
| 公开日期 | 2015-12-16 |
| 申请日期 | 2010-03-30 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49173]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 奥兰若技术有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | N.D.怀特布里德,L.N.朗利,A.C.卡特. 牺牲波导测试结构. CN102449456B. 2015-12-16. |
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