| 一种短碳纳米管长度的原位测量装置 | |
| 孔平; 杨晖; 郑刚 | |
| 2015-11-25 | |
| 著作权人 | 上海医疗器械高等专科学校 |
| 专利号 | CN204807032U |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 一种短碳纳米管长度的原位测量装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型涉及一种短碳纳米管长度的原位测量装置，用半导体激光器作为光源，发出的激光通过起偏器变成垂直方向的线偏振激光，再经凹透镜发散后照射在样品池内的短碳纳米管样品上，透射光经过孔径光阑和检偏器后，被光电倍增管检测，光电倍增管将测得的光信号转换成TTL脉冲电压信号后送入光子计数器，光子计数器统计单位时间的脉冲数转换成光强，最后由电脑根据散射光强的变化计算出对应的短碳纳米管长度。 |
| 公开日期 | 2015-11-25 |
| 申请日期 | 2015-04-08 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/48733]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 上海医疗器械高等专科学校 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孔平,杨晖,郑刚. 一种短碳纳米管长度的原位测量装置. CN204807032U. 2015-11-25. |
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