一种非极性GaN薄膜的生长方法
周健华; 郝茂盛; 颜建锋; 潘尧波; 周圣明
2011-09-14
著作权人上海蓝光科技有限公司
专利号CN101364631B
国家中国
文献子类授权发明
其他题名一种非极性GaN薄膜的生长方法
英文摘要一种非极性GaN薄膜的生长方法,在金属有机物化学气相淀积(MOCVD)系统中,在铝酸锂(LiAlO2)衬底上,在N2保护下,升温到800-900℃,生长低温保护层,低温保护层反应室压力为150-500torr,三甲基镓(TMGa)流量为1-50sccm,对应于摩尔流量:4E-6mole/min-3E-4mole/min,然后降低压力至100-300torr,升温到1000-1100℃继续生长非掺杂氮化镓(U-GaN)层,TMGa流量为10-200sccm,对应于摩尔流量:4E-5mol/min-1E-3mole/min,然后再升温到1150-1200℃,生长高温U-GaN约100nm,然后再降温到1000-1100℃生长U-GaN。通过生长低温保护层,保护铝酸锂衬底不被高温破坏,短暂的高温U-GaN的目的是改善生长的GaN薄膜的表面平整度。
公开日期2011-09-14
申请日期2008-09-25
状态授权
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/47938]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位上海蓝光科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
周健华,郝茂盛,颜建锋,等. 一种非极性GaN薄膜的生长方法. CN101364631B. 2011-09-14.
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