| 激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置 | |
| 王宝杰; 刘克富; 邱剑; 卢元达; 张田 | |
| 2013-07-10 | |
| 著作权人 | 复旦大学 |
| 专利号 | CN203054147U |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型属于开关器件测试技术领域，具体为一种激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置。本实用新型包含高压偏置源、激光二极管驱动、同步控制系统、光导开关检测电路系统和光导开关检测平台。通过同步控制系统控制偏压与驱动的同步性，通过光学平台控制激光二极管与光导开关的相对触发位置。本实用新型适用于实验室及研究所以及制造测试光导开关的厂家。 |
| 公开日期 | 2013-07-10 |
| 申请日期 | 2012-12-21 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/47170]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 复旦大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王宝杰,刘克富,邱剑,等. 激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置. CN203054147U. 2013-07-10. |
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