非圆对称光束波面测量仪
万玲玉; 刘立人; 张明丽; 栾竹
2006-06-14
著作权人中国科学院上海光学精密机械研究所
专利号CN1259546C
国家中国
文献子类授权发明
其他题名非圆对称光束波面测量仪
英文摘要一种非圆对称光束波面测量仪及其测量方法,其结构组成是:同轴地且依次设有小孔、透镜、CCD探测器,该小孔置于透镜的前焦面,该CCD探测器安装在一刻度滑轨上并可在该刻度滑轨上移动,该CCD探测器的探测面位于透镜的后焦面时,该CCD探测器的探测面处于刻度导轨上的零刻度位置,该CCD探测器通过信号线与计算机相连。本发明具有结构简单、操作便捷,可用于半导体激光器所发光束的波面测量,亦可对任意非圆对称光束进行二维波面测量。
公开日期2006-06-14
申请日期2004-05-09
状态失效
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45568]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
万玲玉,刘立人,张明丽,等. 非圆对称光束波面测量仪. CN1259546C. 2006-06-14.
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