Bi_4Ti_3O_(12)铁电薄膜X射线光电子能谱研究 | |
张寅,王弘,尚淑霞,王少伟,王民,齐尚奎,刘希玲 | |
刊名 | 人工晶体学报
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2000 | |
期号 | 02页码:168-170 |
关键词 | 铁电薄膜 化学溶液沉积法 X射线光电子能谱 Si扩散 |
DOI | 10.3969/j.issn.1000-985X.2000.02.015 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6787274 |
专题 | 山东大学 |
作者单位 | 山东教育学院!济南250013,山东大学晶体材料国家重点实验室!济南250100,山东大学晶体材料国家重点实验室!济南25010 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张寅,王弘,尚淑霞,王少伟,王民,齐尚奎,刘希玲. Bi_4Ti_3O_(12)铁电薄膜X射线光电子能谱研究[J]. 人工晶体学报,2000(02):168-170. |
APA | 张寅,王弘,尚淑霞,王少伟,王民,齐尚奎,刘希玲.(2000).Bi_4Ti_3O_(12)铁电薄膜X射线光电子能谱研究.人工晶体学报(02),168-170. |
MLA | 张寅,王弘,尚淑霞,王少伟,王民,齐尚奎,刘希玲."Bi_4Ti_3O_(12)铁电薄膜X射线光电子能谱研究".人工晶体学报 .02(2000):168-170. |
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