LGS晶体的化学腐蚀及缺陷分布 | |
黄庆捷; 孔海宽; 李军; 高磊; 葛文伟; 张怀金; 胡小波; 江怀东; 五继扬 | |
刊名 | 功能材料 |
2003 | |
卷号 | 34期号:2页码:184-186 |
关键词 | 化学腐蚀 缺陷 提拉法 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6769164 |
专题 | 山东大学 |
作者单位 | 1.山东大学, 晶体材料国家重点实验室, 济南, 山东 25100, 中国. 2.山东大学, 晶体材料国家重点实验室, 济南, 山东 25100, 中国. 3.山东大学, |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄庆捷,孔海宽,李军,等. LGS晶体的化学腐蚀及缺陷分布[J]. 功能材料,2003,34(2):184-186. |
APA | 黄庆捷.,孔海宽.,李军.,高磊.,葛文伟.,...&五继扬.(2003).LGS晶体的化学腐蚀及缺陷分布.功能材料,34(2),184-186. |
MLA | 黄庆捷,et al."LGS晶体的化学腐蚀及缺陷分布".功能材料 34.2(2003):184-186. |
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