| Wide Field Epiretinal Micro-electrode-Design and Feature Test | |
| Cui, Hongyan; Xu, Shengpu; Hu, Yong; Feng, Li; Xie, Xiaobo | |
| 2013 | |
| 会议名称 | 6th International IEEE EMBS Conference on Neural Engineering (NER) |
| 会议日期 | 2013-11-06 |
| 会议地点 | San Diego, CA |
| 页码 | 1465-1468 |
| 收录类别 | EI ; CPCI-S |
| 会议录 | 2013 6TH INTERNATIONAL IEEE/EMBS CONFERENCE ON NEU
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| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6687645 |
| 专题 | 中国医学科学院 北京协和医学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Cui, Hongyan,Xu, Shengpu,Hu, Yong,et al. Wide Field Epiretinal Micro-electrode-Design and Feature Test[C]. 见:6th International IEEE EMBS Conference on Neural Engineering (NER). San Diego, CA. 2013-11-06. |
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